산업에서 수집되는 많은 데이터는 시계열의 형태로 수집되고 있으며 이를 통한 이상현상 예측 및 탐지는 데이터 과학의 중요한 주제이다.  이에 관한 일반적 기법과 반도체 공정장비에 적용한 사례에 대해 이 분야의 전문가이며 산업현장의 경험이 많은 오중석 박사를 초빙하여 강연을 듣고,  통계와 기계학습을 통한 이상현상 예측의 가능성 고찰 관련한 알고리즘의 시연도 진행하고자 한다.